1.空氣現(xiàn)場硫化氫速測儀/便攜式硫化氫速測儀/便攜式硫化氫檢測儀/硫化氫測定儀 型號：XT18-
GDYK-101S
儀器點(diǎn)：
* 標(biāo)方法亞甲基蘭法（GB/11742-89）
* 可同時顯示出硫化氫的濃度和吸光度值
* 內(nèi)置充電電池，適用于室內(nèi)和野外現(xiàn)場樣品中游離硫化氫濃度的定量測定
* 采用單片機(jī)控制，具有光譜數(shù)據(jù)處理能
* 大屏幕液晶中文顯示，單片機(jī)智能控制，人機(jī)交互式操作, 具有測量、設(shè)置、記錄、保存和數(shù)據(jù)統(tǒng)計處理能
* 化學(xué)試劑包顯色，樣品和試劑用量少，防止并減少了二次污染
* 實(shí)時顯示環(huán)境溫度，可設(shè)定顯色時間，便于實(shí)驗(yàn)操作
* 現(xiàn)場比色讀出空氣中硫化氫的含量
* 測定下限：0.01mg/m3
* 測定范圍：0.00-1.00mg/m3
* 測量度：5%
配置：
* 主機(jī)1臺
* 大氣采樣器1臺
* 樣品前處理器具1套
* 微機(jī)接口和數(shù)據(jù)處理軟件1套
* 試劑套（100次）

2.四探針程控電動測試架/遠(yuǎn)程電動檢測設(shè)備/程控電動測試架  型號：KDK-KDDJ-2

KDK-KDDJ-2型電動架是使用步電機(jī)驅(qū)動，采用單板機(jī)可編程控制，操作方便，可隨意調(diào)節(jié)探頭的下降zui低點(diǎn)，上升zui點(diǎn)固定，探頭在zuizui低點(diǎn)的停留時間范圍廣（從0-19秒）。硅片硅錠均可測量，普通硅錠測量度為180mm（可按用戶要求加），測試臺zui大直徑200mm，不能旋轉(zhuǎn)和移動。

2、使用方法

電機(jī)在電源開關(guān)接通和按停止按鈕后自動上升至zui點(diǎn)，入備用狀態(tài)。

（1）自動： 按自動按鈕電機(jī)就按設(shè)定自動上升和下降。上升的zui點(diǎn)是固定不變的，下降的zui低點(diǎn)可以隨意調(diào)節(jié)，在zui和zui低點(diǎn)的停留時間是可調(diào)的。當(dāng)電機(jī)入自動狀態(tài)時按其他能按鈕均無效，如需停止運(yùn)行行其它操作，按下停止按鈕1秒即可。

（2）手動： 按下手動按鈕電機(jī)就下降至當(dāng)前設(shè)定的zui低點(diǎn)，再按下就上升至zui點(diǎn)。

注：如需重新設(shè)定zui低點(diǎn)時，設(shè)定結(jié)束后按停止按鈕再行手動做。如在剛設(shè)定好zui低點(diǎn)后直接按手動按鈕探頭會下降到導(dǎo)軌的zui低點(diǎn)，（行程開關(guān)接通為止）可能會對被測試物品成損壞。

（3）定位： 當(dāng)需要重新修改探頭下降的zui低點(diǎn)時，設(shè)備在備用狀態(tài)下才可行修改，修改前要把以前的數(shù)據(jù)清除掉，按定位清0即可。之后按定位按鈕，每按下探頭就往下移動0.5mm，數(shù)據(jù)自動加1，zui大數(shù)據(jù)約為70-80，到達(dá)導(dǎo)軌的zui低點(diǎn)時行程開關(guān)接通數(shù)據(jù)自動回0，再按定位按鈕無效。探頭下降的zui低點(diǎn)設(shè)定好后按停止按鈕1秒，就可以行自動或手動操作。

（4）定位清0：在需要重新設(shè)定探頭下降zui低點(diǎn)時使用，按下后清除原有數(shù)據(jù)源方便重新設(shè)定。

（5）上延時： 設(shè)定探頭在上升至zui點(diǎn)時需要停留的時間，按上延時按鈕能窗口顯示UP，這時按        調(diào)整到需要時間。時間調(diào)節(jié)范圍從0-19秒，每按次數(shù)據(jù)自動+或-1（范圍為0-95），對應(yīng)時間約為1≈0.2秒，時間設(shè)定好后再按上延時按鈕確定。

（6）下延時： 設(shè)定探頭在下降至zui低點(diǎn)時探頭需要在被測樣品上的停留時間，按下延時按鈕能窗口顯示d∩，這時按        調(diào)整到需要時間。時間調(diào)節(jié)范圍從0-19秒，每按次數(shù)據(jù)自動+或-1（范圍為0-95），對應(yīng)時間約為1≈0.2秒，時間設(shè)定好后再按下延時按鈕確定。

（7）   ：設(shè)定探頭在下降至zui低點(diǎn)或探頭在上升至zui點(diǎn)時的停留時間，每按次數(shù)據(jù)自動+1（范圍為0-95），大于95時自動回0，對應(yīng)時間約為數(shù)據(jù)1≈0.2秒

（8）   ：設(shè)定探頭在下降至zui低點(diǎn)或探頭在上升至zui點(diǎn)時的停留時間，每按次數(shù)據(jù)自動-1（范圍為0-95），小于0后自動跳到95，對應(yīng)時間約為數(shù)據(jù)1≈0.2秒

3、日常維護(hù)

（1）在測試架的立柱上有卡環(huán)，防止電動測試件因操作失誤而跌落，保護(hù)探針頭和測試臺面。可根據(jù)需要把卡環(huán)緊固在合適的位置。

（2）測試臺可360度旋轉(zhuǎn)，通過靠近把手的內(nèi)六角螺絲調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)的松緊。

（3）在設(shè)定探頭下降zui低點(diǎn)時，般把砝碼起1-2mm即可，砝碼zui可起約為8mm，起過可能會卡住探頭引出線。

（4）在電動架上的機(jī)械活動分需定期加黃油，保證活動順暢。在探針頭上的兩條直線軸承上也需定期加少量潤滑油。

4、主機(jī)能數(shù)

（4）供電電源：

     AC  220V±10%    50/60  Hz    率：40W

（5）使用環(huán)境：

溫度：23±2℃   相對濕度：≤65%

無較強(qiáng)的電場干擾，無強(qiáng)光直接照射

（6）重量、體積：

主機(jī)重量：30kg

體積：300×400×400（單位：mm  長度×寬度×度）

3. 紅寶石探針頭系列 紅寶石探測器 紅寶石探針頭 紅寶石探測儀（A） 型號：KDK-KDT

、點(diǎn)
1、 使用幾何尺寸十分的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確。
2、 控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μｍ，保證探針的小游移率。
3、 采用制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有立、準(zhǔn)確的壓力。
4、 量具度的硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)動，持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、標(biāo)
1、 游移率   

                   B…………… ＜0.5%
                   A……………＜0.3%

                   AA………… ＜0.2%
                   AAA…………＜0.1%
2、 間距偏差  

                   B…………… ＜3%
                   A…………… ＜2%
                   AA…………  ＜2%
                   AAA………… ＜1%
3、 zui大針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
4、 探針材料：硬質(zhì)合金（主成份：口碳化鎢）或速鋼
5、 探針壓力      標(biāo)準(zhǔn)壓力：6—10N（4根針總壓力）
                        小壓力：1.2—5N（4根針總壓力）     
                        1牛頓（N）=101.97克
6、 針尖壓痕直徑：25—100μｍ、100—250μｍ（簿層）
7、 500V緣電阻：＞1000MΩ

4. 導(dǎo)電型號測試儀 導(dǎo)電型號檢測儀 型號：KDK-STY-3

KDK-STY—3型導(dǎo)電型號測試儀是嚴(yán)格按照標(biāo)GB/T1550-1997和ASTM  F42（非本征半導(dǎo)體村料導(dǎo)電類型的標(biāo)準(zhǔn)測試方法）中的熱探針及整導(dǎo)電類型測試方法的導(dǎo)電類型鑒別儀。

本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內(nèi)，冷熱探筆在半導(dǎo)體材料上產(chǎn)生的熱電動勢及整法產(chǎn)生的電勢差經(jīng)低噪聲、低漂移的集成運(yùn)算放大器放大后，用液晶顯示器件（LCD）及檢計示型號方向。儀器靈敏度分、低兩檔，可判別大分非本征半導(dǎo)體材料型號（從阻單晶到重?fù)絾尉В?/p>

二、性能

1、可判別鍺、硅著料的電阻率范圍：

鍺：非本征鍺10³～10^?4Ω·cm

硅：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

經(jīng)內(nèi)外實(shí)驗(yàn)證明：在室溫情況下，熱電法對于電阻率低于1000Ω·cm的硅單晶整法結(jié)果可靠。

2、鍺、硅單晶直徑及長度：不受限制

3、顯示方式：由顯示N和P的液晶器件直接示，同時中心刻度為零位檢計也在示型號，針向左偏轉(zhuǎn)被測樣品為N型，針向右偏轉(zhuǎn)被測樣品為P型。

5、探針：用ASTM F42標(biāo)準(zhǔn)中建議的不銹鋼作冷熱探針材料，針尖為60℃錐體，熱筆溫度自動保持在50?60℃范圍內(nèi)，冷筆與室溫相同。整法行選用硬質(zhì)合金作探針。

6、電源及耗：AC 220V±10%，50HZ交供電，zui大耗（熱筆加熱狀態(tài)）小于40W，平均耗≈10W。

7、外型尺寸：370×320×110（mm）

8、重量：約 4 kg

5. 導(dǎo)電型號測試儀 導(dǎo)電型號檢測儀 型號：KDK-STY-2

本儀器運(yùn)用了四代集成電路、。儀器采用熱電法測量硅單晶型號，配置了可自動恒溫的熱探筆，并由液晶器件直接發(fā)顯示N、P型。
對于電阻率小于1000Ω.cm的硅片、塊都可以準(zhǔn)確地鑒定出導(dǎo)電型號。
使用方法：
1、插好背板上的電源線，并與～220V插座相接；將熱筆、冷筆與面板上4芯、3芯插座相接。
2、打開儀器面板左下角的電源開關(guān)，電源示燈及熱筆加熱燈亮。10分鐘左右熱筆達(dá)到作溫度時，保溫（綠）燈亮，即可行型號測量。熱探筆隨后自動入保溫→加熱→保溫→…循環(huán)，溫度保持在40-60℃（標(biāo)及際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的溫度）。
3、將熱筆在被測單晶面上放穩(wěn)，后將冷筆點(diǎn)壓在單晶上，液晶顯示器即顯示型號（N或P）。
4、測量電阻率較的單晶時，請將N型調(diào)零電位器P型調(diào)零電位器調(diào)近臨界點(diǎn)（逆時針旋轉(zhuǎn)），以便提儀器的測量靈敏度。
5、在P型、N型顯示不穩(wěn)定時，以多次能重復(fù)的測量結(jié)果為準(zhǔn)。
6、測量時握筆的手不要與被測單晶接觸，以免人體感應(yīng)影響測量結(jié)果。

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對應(yīng)的