型號(hào)：GSZ-ST-20

方塊電阻測(cè)試儀電阻測(cè)試儀測(cè)試儀

描述：方塊電阻測(cè)試儀是種依照類似的家標(biāo)準(zhǔn)和美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。

廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間
2024-04-12
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方塊電阻測(cè)試儀電阻測(cè)試儀測(cè)試儀型號(hào)：GSZ-ST-20

方塊電阻測(cè)試儀是種依照類似的家標(biāo)準(zhǔn)和美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 點(diǎn)：

采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定

低耗

采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓示

儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm

制之手握式探筆，形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜

探頭帶抗靜電模塊

◆ 標(biāo)：

測(cè)量范圍	基本量程：方塊電阻10.0-199.9（Ω/口）擴(kuò)展量程：方塊電阻100-1999（Ω/口）
測(cè)量不確定度	≤5%
探針規(guī)格	探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ
恒源	測(cè)量過程誤差：≤±0.8%
電源	9V疊層電池1節(jié)A