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型號：TP-WSG-1

電子散斑干涉（ESPI）實驗裝 干涉實驗裝置

描述：本實驗裝置主要面向大院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，的測試。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
該實驗裝置具有機構(gòu)簡單、度、靈敏性好、非接觸、暗房操作，實時顯示場信息及處理信息快等優(yōu)點，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

  • 更新時間

    2024-04-13

  • 訪問量

    2004
詳細介紹
品牌恒奧德

電子散斑干涉（ESPI）實驗裝  干涉實驗裝置                  型號：TP-WSG-1

 

 

 

本實驗裝置主要面向大院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，的測試。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
該實驗裝置具有機構(gòu)簡單、度、靈敏性好、非接觸、暗房操作，實時顯示場信息及處理信息快等優(yōu)點，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。
 
儀器點：
自己調(diào)節(jié)光路，可提動手能力；
采用了處理光學(xué)信息的CCD測量
計算機處理圖象，軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性：
CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、調(diào)整架、光學(xué)零件、被測樣品。
：www.51658042.com
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