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描述：該產(chǎn)品主要應用在微電子、光電子線上和科研、教學等域Si、Ge、GaAs等半導體基片及電子薄膜應力分布、光學零件面形和平整度面形、 基片曲率 半徑測量測試。該儀器總測量點數(shù)多, 能給出場面型分布結果, 適合于微電子線上產(chǎn)量的快速檢驗和微電子研究
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-04-17訪問量
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詳細介紹
| 品牌 | 恒奧德 |
|---|
電子薄膜應力分布測試儀 型號：BGS-6341
 際*的錯位相移 |
| 計算機自動條紋處理 |
| 測試過程自動 |
| 的曲面補償測試原理 |
| ≤100mm （4英寸） | |
| |R|≥5米 | |
| 5% | |
| 3分鐘/片 | |
| 面形、曲率半徑、應力分布、公式表示、數(shù)據(jù)表格 | |
| 三維立體顯示、二維偽彩色顯示、單截面曲線顯示 | |
| AC 220V±10%, 50Hz±5% | |
| 100W | |
| 285mm×680mm×450mm | |
| 36kg |
北京恒奧德儀器儀表有限公司
：鵬
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