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可靠性，低耗電 體積小，重量輕，操作方便 中文菜單操作界面 實(shí)測(cè)曲線(xiàn)動(dòng)態(tài)顯示 達(dá)1GB(可擴(kuò)展)的大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器 支持通過(guò)USBHAD-FFG-2接口導(dǎo)出存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 限報(bào)警，報(bào)警閾值可設(shè)定 可輸入標(biāo)定系數(shù)
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀/雙電測(cè)四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-2263 概述 HAD-2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線(xiàn)或方形四探針雙位測(cè)-改形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電探針、電壓探針的變換，行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距
當(dāng)前位置：