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該儀器的點(diǎn)是：裝置簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確度、試驗(yàn)速度快（次試驗(yàn)十分鐘左右），在次試驗(yàn)中可同時(shí)測(cè)出材料的導(dǎo)熱系數(shù)，導(dǎo)溫系數(shù)和比熱，并且能測(cè)量不同含濕狀態(tài)下的熱物理性能。參考標(biāo)準(zhǔn)：JGJ51-2002(輕骨料混凝土規(guī)程)。
在測(cè)量導(dǎo)電材料電阻率若采用三電或二電測(cè)量時(shí)會(huì)因?yàn)殡娕c被測(cè)量材料表面電阻而影響測(cè)量準(zhǔn)確性，本裝置采用四電法測(cè)量導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻成的誤差影響，
·測(cè)試電：10A/25A AC ·接地電阻：0～200mΩ(25A) 0～600mΩ(10A) ·準(zhǔn)確度：±3 % ·報(bào)警電阻值可意設(shè)定 ·自動(dòng)測(cè)試時(shí)間:0～99S(可隨意設(shè)定)
HARTS-8型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
能 量程 基本度 額定作電壓 15/50/100V ±(3.0%＋5) 緣電阻測(cè)試范圍 0.001M～100MΩ ±(3.0%＋5) 交電壓 600V ±(2.0%＋5)
■ 儀器小巧輕盈，便于攜帶，是出差或出采購(gòu)硅料硅棒硅片Z佳選擇； ■ 單探頭次測(cè)量，同時(shí)顯示型號(hào)及電阻率；或有報(bào)警聲音，提示重?fù)讲牧希? ■ 適合各種片料，塊料，頭尾料等的測(cè)量，修正只需設(shè)置相應(yīng)厚度值； ■ 融合導(dǎo)電型號(hào)、電阻率測(cè)量、報(bào)警為體
當(dāng)前位置：